Neste trabalho foram investigados diferentes modelos estruturais e microestruturais aplicados na análise de dados de difração de raios-X de misturas de fases polimórficas da Tibolona com concentrações conhecidas. Os dados de raios-X obtidos em diferentes instrumentos de difração foram analisados usando os mesmos modelos de análise via método de Rietveld. Os resultados da análise quantitativa das concentrações de fases mostram que, independentemente do instrumento utilizado, os modelos de cálculos seguem a mesma sistemática nos valores de erros finais. A estratégia para escolha do modelo de análise que leva ao menor erro de medição é apresentada neste trabalho.
ABSTRACT – In this study different structural and microstructural models applied to X-ray analysis of powder diffraction data of polymorphic mixtures of known concentrations of Tibolone were investigated. The X-ray data obtained in different diffraction instruments were analysed via Rietveld method using the same analytical models. The results of quantitative phase analysis show that regardless of the instrument used, the values of the calculated concentrations follow the same systematics with respect to the final errors. The strategy to select a specific analytical model that leads to lower measurement errors is here presented.
