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Browsing 8. Congresso Brasileiro de Metrologia (CBM) by Subject "X-ray diffraction"

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  • Silva, Ronaldo Pedro da; Ambrósio, Mateus Felipe Schuchter; Avillez, Roberto Ribeiro de; Epprecht, Eugenio Kahn; Achete, Carlos Alberto; Kuznetsov, Alexei; Visentin, Lorenzo do Canto (2015)
    Neste trabalho foram investigados diferentes modelos estruturais e microestruturais aplicados na análise de dados de difração de raios-X de misturas de fases polimórficas da Tibolona com concentrações conhecidas. Os dados ...

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