A cadeia de rastreabilidade da unidade de capacitância, “farad”, no Inmetro: identificação das variáveis que mais influenciam no processo da rastreabilidade

Abstract

O principal objetivo desta pesquisa foi determinar as variá veis que influenciam no processo da realização da rastreabilidade da unidade de capacitância “farad” com confiabilidade metrológica. Para cada variável determinada, foram estabelecidas orientações necessárias e ações que busquem minimizar seus efeitos. Na impossibilidade de minimizá-los, essas influências foram quantificadas através da determinação das incertezas de medição em todo processo, desde a calibração dos padrões de referência no BIPM até a manutenção da unidade de capacitância no laboratório. Um dos indicadores de sucesso desta pesquisa será o resultado obtido da comparação interlaboratorial de padrão de capacitância, que ocorrerá em setembro de 2004 promovido pelo Sistema Interamericano de Metrologia – SIM, que será coordenada pelo National Institute of Standards and Technology - NIST/USA e supervisionado pelo BIPM. A dissertação foi estruturada em três partes fundamentais. Iniciou-se com o levantamento dos pressupostos teóricos que fundamentaram toda a pesquisa. Esta fase foi elaborada consultando-se livros, artigos científicos na área de metrologia geral e elétrica e, os anais de Congressos tais como, CEPEM, METROLOGIA, e SEMETRO. Na fase seguinte foram identificadas todas as variáveis que influenciam no processo de rastreabilidade. Finalmente, fez-se uma análise do nível de confiabilidade metrológica do processo de rastreabilidade da unidade de capacitância “farad”, no Laboratório de Capacitância e Indutância – Lacin do INMETRO. ____________________________________________________________________________________.

ABSTRACT: The main objective of this research is to determine the variables that act on the accomplishment of the traceability of capacitance unity “farad” with metrological reliability. To each particular variable, specific orientations were established and ways to reduce their effects were searched. When it was impossible to minimize them, these influences were quantified by determining the measurement unc ertainty throughout the process - from the calibration of the reference standards at BIPM to the maintenance of the capacitance unit in the laboratory. The desired results of this research will be seen in the interlaboratorial comparison of Standard capacitor that will take place in September 2004 supported by Interamericam Metrological System (Sistema Interamericano de Metrologia) – SIM, organized by National Institute of Standards and Technology - NIST/USA and supervised by BIPM. This study has three main parts. It starts searching theoretical reference to validate this research. In this first step books, scientific papers on general and electrical metrology, CEPEM, METROLOGIA, e SEMETRO annals were searched. In the next step all variables that act on the traceability process were identified. Finally, the analysis of the metrological reliability level of the traceability process was done at Capacitance and Inductance Laboratory – Lacin of Inmetro.