Abstract:
Com o desenvolvimento das técnicas de medição e os aprimoramentos nos equipamentos utilizados para caracterização de materiais em escalas nanométricas, é de extrema importância à garantia na qualidade dos resultados desse tipo de ensaio. A utilização dos métodos conhecidos como EPI (Ensaio por Penetração Instrumentada) demanda estudos de forma a minimizar erros ou possíveis problemas que possam influenciar diretamente os resultados dos ensaios. Este trabalho tem por objetivo mostrar uma nova metodologia para minimizar a influência de uma dessas possíveis fontes de erro – a determinação da geometria dos penetradores em faixas de penetração menores que 200 nm –, através da aplicação de ajuste de curvas que melhor descrevam a geometria dos penetradores.
