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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.

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2017Sensitometric curve of radiographic films by X-ray fluorescenceGonçalves, Elicardo Alves de Souza; Oliveira, Davi Ferreira de; Anjos, Marcelino Jose dos; Oliveira, Luis Fernando de; Lopes, Ricardo Tadeu
201765Zn and 133Ba standardizing by photon-photon coincidence countingCruz, Paulo Alberto Lima da; Loureiro, Jamir dos Santos; Iwahara, Akira; Delgado, José Ubiratan; Lopes, Ricardo Tadeu
2017MicroCT parameters for multimaterial elements assessmentAraújo, Olga Maria Oliveira de; Machado, Alessandra Silveira; Santos, Thaís Maria Pires dos; Guimarães, Cíntia; Lopes, Ricardo Tadeu
2017Evaluation of acquisition parameters in microtomography through of analysis of carbonatic rocksSantos, Thaís Maria Pires dos; Machado, Alessandra Silveira; Ferreira, Cíntia Guimarães; Araújo, Olga Maria Oliveira de; Lopes, Ricardo Tadeu
2015Determinação do centro efetivo de um detector do tipo De Pangher long counter no salão de baixo espalhamento de nêutrons do Laboratório de Metrologia de Nêutrons (LN)Fernandes, Simone da Silva; Patrão, Karla Cristina de Souza; Fonseca, Evaldo Simões da; Pereira, Walsan Wagner; Lopes, Ricardo Tadeu
2015Padronização do 57Co por diferentes métodos do LNMRIRezende, Eduarda Alexandre; Poledna, Roberto; Silva, Ronaldo Lins da; Silva, C. J.; Tauhata, L.; Lopes, Ricardo Tadeu
2015Padronização absoluta do 106Ru pelo método de anticoincidênciaSilva, C. J. da; Rezende, Eduarda Alexandre; Poledna, Roberto; Tauhata, L.; Lopes, Ricardo Tadeu
2015Determination of the 121Te gamma emission probabilities associated with the production process of radiopharmaceutical NaI[123I]Araújo, Miriam Tainá Ferreira de; Poledna, Roberto; Delgado, José Ubiratan; Almeida, Maria Candida Moreira de; Lopes, Ricardo Tadeu; Silva, Ronaldo Lins da
2015New thermal neutron calibration channel at LNMRI/IRDAstuto, Achilles; Patrão, Karla Cristina de Souza; Fonseca, Evaldo Simões da; Pereira, Walsan Wagner; Lopes, Ricardo Tadeu
2015Activity determination of a 201Tl solution by 4πβ–γ and sum-peak coincidence methodsRuzzarin, Anelise; Silva, Monica Aguiar Leobino da; Iwahara, Akira; Silva, Ronaldo Lins da; Trindade Filho, Octavio Luiz; Poledna, Roberto; Lopes, Ricardo Tadeu