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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2050011876/832
Acervo: Produção científica
Title: Traceability of capacitance measurements at the μF range at Inmetro
Authors: Vasconcellos, Renata de Barros e
Lima, Vladimir Rodrigues de
Tipo de Objeto: Artigo científico
Pais: Brasil
Lingua: Inglês
Instituicao: Instituto Nacional de Metrologia Qualidade e Tecnologia (INMETRO)
Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM)
Descricao Fisica: 4 f.
Issue Date: 2017
Termos de Uso: É permitida a reprodução deste texto e os dados nele contidos, desde que citada a fonte. Reprodução para fins comerciais são proibidas.
Area Tematica: Metrologia científica e aplicada
Incerteza de medição
Calibração
Metrologia física
Metrologia
metadata.dc.subject.decs: Metrologia
Metrologia científica e aplicada
Metrologia em energia elétrica
Medição
Calibração
Incerteza de medição
Palavras-chave: Coaxial bridge
Ponte coaxial
Capacitance measurement
Medição de capacitância
Digital signal
Sinal digital
Abstract: This paper describes the improvements made at the four terminal pair coaxial bridge developed at Inmetro, in order to compare a 100 nF with a 1 μF standard capacitor. This measurement allowed the validation of the digital quadrature bridge, also developed at Inmetro, at the micro-farad range, which is an essential step in providing traceability to high-value capacitance measurements.
Appears in Collections:12. Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO)

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