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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2050011876/766
Acervo: Produção científica
Title: Study for the development of a photomask calibration procedure
Authors: Costa, Pedro Bastos
Barros, Wellington Santos
Leta, Fabiana Rodrigues
Tipo de Objeto: Artigo científico
Pais: Brasil
Lingua: Inglês
Instituicao: Instituto Nacional de Metrologia Qualidade e Tecnologia (INMETRO)
Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM)
Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
Descricao Fisica: 4 f.
Issue Date: 2017
Termos de Uso: É permitida a reprodução deste texto e os dados nele contidos, desde que citada a fonte. Reprodução para fins comerciais são proibidas.
Area Tematica: Metrologia científica e aplicada
Calibração
Metrologia
metadata.dc.subject.decs: Metrologia
Metrologia científica e aplicada
Medição
Calibração
Palavras-chave: Rastreabilidade de medição
Metrologia de imagem
Image metrology
Metrologia dimensional
Dimensional metrology
Fotomáscara
Photomask
Máquina de medição por coordenada (MMC)
Coordinate measuring machine (CMM)
Universidade Federal Fluminense (UFF)
Abstract: In order to provide traceability for two-dimensional standards used in optical CMM calibration, this study was carry out testing the procedure for alignment, the image processing and analysis, mathematical model and the uncertainty evaluation in a measurement of a photomask of 300 mm x 300 mm. This paper describes all procedure development based on different bibliographic references and the image processing algorithm implemented to automatically detect the measurement points in the measurand.
Appears in Collections:4. Congresso Internacional de Metrologia Mecânica (CIMMEC)

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