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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2050011876/726
Acervo: Produção científica
Title: MicroCT parameters for multimaterial elements assessment
Authors: Araújo, Olga Maria Oliveira de
Machado, Alessandra Silveira
Santos, Thaís Maria Pires dos
Guimarães, Cíntia
Lopes, Ricardo Tadeu
Tipo de Objeto: Artigo científico
Pais: Brasil
Lingua: Inglês
Instituicao: Instituto Nacional de Metrologia Qualidade e Tecnologia (INMETRO)
Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM)
Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
Descricao Fisica: 4 f.
Issue Date: 2017
Termos de Uso: É permitida a reprodução deste texto e os dados nele contidos, desde que citada a fonte. Reprodução para fins comerciais são proibidas.
Area Tematica: Metrologia científica e aplicada
Metrologia e instrumentação em radiações ionizantes
Metrologia na área de saúde
metadata.dc.subject.decs: Metrologia
Metrologia científica e aplicada
Medição
Palavras-chave: Metrologia das radiações ionizantes
Metrologia na área de saúde
Metrologia na área de proteção radiológica
Monte Carlo n-particle extended (MCNPX)
Computed microtomography (Micro-CT)
Microtomografia computadorizada
Additional filter
Filtro adicional
Multimaterial elements
Elementos multimateriais
Universidade Estadual Paulista (Unesp)
Abstract: Microtomography is a non-destructive testing technique for quantitative and qualitative analysis. The investigation of multimaterial elements with great difference of density can result in artifacts that degrade image quality depending on combination of additional filter. The aim of this study is the selection of parameters most appropriate for analysis of bone tissue with metallic implant. The results show the simulation with MCNPX code for the distribution of energy without additional filter, with use of aluminum, copper and brass filters and their respective reconstructed images showing the importance of the choice of these parameters in image acquisition process on computed microtomography.
Appears in Collections:4. Congresso Brasileiro de Metrologia das Radiações Ionizantes (CBMI)

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