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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.


Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2050011876/433
Acervo: Texto
Title: Principais mudanças da ISO/IEC 17025: a visão do Instituto Nacional de Metrologia
Authors: Santos, Silvio Francisco dos
Tipo de Objeto: Texto
Pais: Brasil
Lingua: Português (Brasil)
Instituicao: Instituto Nacional de Metrologia Qualidade e Tecnologia (INMETRO)
Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM)
Descricao Fisica: 38 f. : com ilustrações.
Issue Date: 2017
Termos de Uso: É permitida a reprodução deste texto e dos dados nele contidos, desde que citada a fonte. Reproduções para fins comerciais são proibidas.
Nivel Educacional: Educação superior
Area Tematica: Metrologia científica e aplicada
Gestão da qualidade
metadata.dc.subject.decs: Avaliação da conformidade
Acreditação
Metrologia
Metrologia científica e aplicada
Sistema de gestão da qualidade
Palavras-chave: Infraestrutura de Qualidade (IQ)
NBR ISO IEC 17025
Diretoria de Metrologia Científica e Tecnologia
Abstract: Visão de um Instituto Nacional de Metrologia (Inmetro) sobre as mudanças da norma ISO/IEC 17025.
Appears in Collections:Metrologia científica e aplicada: Slides / Apresentação
Sistemas de gestão da qualidade: Produção Científica
Acreditação: Produção Científica
Acreditação: Slides / Apresentação

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