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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.

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2017Avaliação da impedância de entrada dos eletrocardiógrafos segundo as normas ABNT NBR IEC 60601-2-51: 2005 e 60601-2-25: 2014Nunes, Miguel Rosa; Moraes, José Carlos Teixeira de Barros
2015A bilateral comparison on illuminance using a photometer between IPT and LABELOFerreira Jr., Antonio Francisco Gentil; Bindé Jr., Carlos José Rupp
2017Calibración automatizada de cronómetros por el método de inducción con medidor de frecuencia de refrescamiento de pantallaBlanco, Blanca Isabel Castro; Cordero, Oscar Giovanni Fallas; Salazar, Jose David Ramirez
2015Capacity assessment of a system for metrological traceability on liquid micro flow rate measurementDias, Brenda Lopes; Aquino, Marcos Henrique Gonçalves; Farias, Maria Helena; Koiller, Jair
2015Comparação interlaboratorial em calibração de acelerômetroSantos, Galeze Moraes dos; França, André Luis Costa; Oliveira, Bruno José Luz de; Silva, Dayanne Romagnoli; Allegretti, Marcos
2015Comparação intralaboratorial de emissão radiada em lâmpadasDias, Marcelo Sanches; Goebel, Pierre; Barbosa, Mario Fernando
2017Comparação metrológica de um sistema fotogramétrico com uma máquina de medição por coordenadasLima, Clídio Richardson Gonçalves de; Baldo, Crhistian Raffaelo; Donatelli, Gustavo Daniel
2017Comparative study between EDXRF and ASTM E572 methods using two-way ANOVAKrummenauer, Alex; Veit, Hugo Marcelo; Ferreira, Jane Zoppas
2015DC resistance comparison between a current comparator bridge and the quantum Hall system at InmetroSilva, Márcio Cândido da; Carvalho, Hélio Ricardo; Vasconcellos, Renata Teixeira de Barros e
2017Development of a tensile test for microspecimensSchmidt, Matheus Lothar; Santos, Thinnie Hahn dos; Reguly, Afonso
2015Intralaboratory comparison for the anisotropy test of sheet metalsFabricio, Daniel Antonio Kapper Fabricio; Trevisan, Lisiane; Reguly, Afonso; Strohaecker, Telmo Roberto
2017Measurement of ultrasound power using a calorimeterAlmeida, Gisele Morgado de; Miqueleti, Sandro Aureliano; Costa-Felix, Rodrigo Pereira Barretto da
2017New method for characterization of retroreflective materialsSanchez Júnior, Oswaldo; Silva, Emerson Santos; Barros, Kelvis do Nascimento
2017Resultado da primeira comparação nacional de frenômetros do BrasilOliveira, Jackson da Silva; Ferreira, Paulo Lyra Simões; Couto, Paulo Roberto Guimarães
2017Sistemas de iluminação e as radiações eletromagnéticas associadasSens, Marcio Antonio; Rosa, Willians Felippe Oliveira
2015Validação do método de análise quantitativa de fases por DRX em IFA: caso TibolonaSilva, Ronaldo Pedro da; Ambrósio, Mateus Felipe Schuchter; Avillez, Roberto Ribeiro de; Epprecht, Eugenio Kahn; Achete, Carlos Alberto; Kuznetsov, Alexei; Visentin, Lorenzo do Canto