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Banco de Objetos de Metrologia BOM

O Banco de Objetos de Metrologia (BOM) foi desenvolvido pela Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) a partir de financiamento do Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq), por meio do Programa Sul-Americano de Apoio às Atividades de Cooperação em Ciência e Tecnologia – PROSUL.

O BOM contempla diferentes tipos de recursos educacionais e informacionais, produzidos de acordo com objetivos de aprendizagem específicos e que podem ser acessados publicamente ou utilizados por instituições de ensino em suas ofertas de capacitação, em particular em disciplinas correlatas à metrologia.

Um recurso educacional ou objeto de aprendizagem, para fins de organização e tratamento do acervo, é entendido como um documento digital que pode ser utilizado no contexto do ensino-aprendizagem.

Considerando essas características, o BOM foi desenvolvido para preservar e tornar pública a produção de conhecimento sobre metrologia e temas tangenciais ou transversais, como avaliação da conformidade, acreditação, propriedade industrial, propriedade intelectual, normalização e gestão da qualidade.

Em paralelo ao desenvolvimento do repositório digital também foi desenvolvido o vocabulário controlado sobre metrologia, avaliação da conformidade e normalização com o objetivo de padronizar o processo de indexação e busca de informações no BOM. Tematres

Também está disponível um Laboratório Virtual de Metrologia contendo objetos de aprendizagem para comporem o conjunto de experimentos.

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Issue DateTitleAuthor(s)
1998Medida, normalização e qualidade : aspectos da história da metrologia no BrasilDias, José Luciano de Mattos
1999Expressão da incerteza de medição na calibração : versão brasileira da publicação EA-4/02-
1999Suplemento 1 ao EA-04/02 Expressão da Incerteza de Medição na Calibração : exemplos-
2000ISO 9001 : 2000: certificar ou não certificar?-
2003Controle de potência em sistemas de comunicações móveis celularesSouza, Rodolfo Saboia Lima de; Maia, Marco Antônio Grivet Mattoso
2003Simulação numérica do efeito sistemático das impurezas na temperatura dos pontos fixos termométricosCamarano, Denise das M.; Realino, Milton; Andrade, Roberto Márcio
2005Programa nacional de certificação para cachaça-
2005Aplicações metrológicas do ultra-som empregado em engenharia biomédica utilizando varreduras de senos (chirps)Costa-Félix, Rodrigo Pereira Barretto da; Machado, João Carlos
2005Estimação Bayesiana de componentes harmônicos usando voltímetros digitais com amostragem assíncronaKyriazis, Gregory Amaral; Campos, Marcello Luiz Rodrigues de
2005Padronização primária em metrologia de vibraçõesRipper, Gustavo Palmeira; Zindeluk, Moysés
2006Desenvolvimento de um espectrômetro de emissão para a região do infravermelho próximoGonzaga, Fabiano Barbieri; Pasquini, Celio
2006Estudo de propriedades estruturais, magnéticas e magnetocalóricas de compostos à base de gd, ge e siCarvalho, Alexandre Magnus Gomes; Gama, Sergio; Perlingeiro, Pedro Jorge von Ranke
2006Calibração de microfones com resposta impulsivaSoares, Zemar Martins Defilippo; Gerges, Samir Nagi Yousri
2006Sistema de monitoração de carga elétrica residencial com implementação para diferentes cenários de aplicaçãoPrado, Charles Bezerra do; Seixas, José Manoel de
2007Avaliação da conformidade-
2007Vocabulário internacional de termos de metrologia legal: portaria Inmetro nº 163 de 06 de setembro de 2005-
2007Regulamentação metrológica: resolução CONMETRO nº 11/88-
2007Sistemas complexos: estudo de problemas em economia da tecnologia e imunologiaRibeiro, Leonardo Costa; Dickman, Ronald
2008Metrologia e padronização técnica como ferramentas para a competitividade e inovatividade industrial: uma análise a partir da indústria brasileira de etanol combustívelSouza, Taynah Lopes de; Hasenclever, Lia
2008Escoamento turbulento sobre colinas abruptas lisas e rugosas com extensas regiões de separaçãoLoureiro, Juliana Braga Rodrigues; Freire, Atila Pantaleão Silva